波譜-能譜復(fù)合型X射線熒光光譜儀集波譜、能譜、微X射線分析于一身，集成了波譜和能譜的優(yōu)點，擴展了X射線熒光光譜儀的分析領(lǐng)域，搭建了從厘米級總體分析到毫米級分布分析的橋梁。

    2017年3月5~9日，第68屆匹茲堡國際實驗室儀器展覽會在美國芝加哥展覽中心舉行。
 

　　地調(diào)局實驗測試中心、北京鋼研納克檢測技術(shù)有限公司、地調(diào)局南京地調(diào)中心等共同自主研發(fā)的 CNX-808WE 波譜-能譜復(fù)合型X射線熒光光譜儀驚艷亮相，受到眾多專家學(xué)者的關(guān)注。
 

　　該儀器集波譜、能譜、微X射線分析于一身，集成了波譜和能譜的優(yōu)點，擴展了X射線熒光光譜儀的分析領(lǐng)域，搭建了從厘米級總體分析到毫米級分布分析的橋梁。許多參加展會的客商，對CNX-808WE 波譜-能譜復(fù)合型X射線熒光光譜儀表示了極大的興趣，并現(xiàn)場進行了詳細咨詢。
 

　　通過這次參展，不僅了解到了儀器行業(yè)的最新行情，開拓了國際視野，為今后的儀器研發(fā)工作帶來了新的理念，更有助于該項成果的市場化。
 

　　編輯點評

     地調(diào)局實驗測試中心、北京鋼研納克檢測技術(shù)有限公司、地調(diào)局南京地調(diào)中心等共同自主研發(fā)的 CNX-808WE 波譜-能譜復(fù)合型X射線熒光光譜儀為我國熒光光譜領(lǐng)域注入新鮮血液，再一次提高了我國國產(chǎn)儀器自主研發(fā)創(chuàng)新能力。