檢驗(yàn)平板平面度的原始數(shù)據(jù)通常把測(cè)量得到的相對(duì)測(cè)量基面的距離稱為平面度誤差的原始數(shù)據(jù)。當(dāng)測(cè)量基面與評(píng)定基面方位一致時(shí)，即可用此原始數(shù)據(jù)按評(píng)定原則求得平面度誤差值；但當(dāng)測(cè)量基面與評(píng)定基面方位不一致時(shí)，需對(duì)原始數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，以確定出評(píng)定基面的具體方位，從而求出平面度誤差值。 如果評(píng)定時(shí)所依據(jù)的評(píng)定原則不符合平面度誤差定義，那么由此得到的平板平面度誤差必須用最小條件原則加以處理（即重新評(píng)定）以后，才能得到符合要求的平面度誤差值。也就是說(shuō)原先評(píng)定的結(jié)果作為后一評(píng)定時(shí)的原始數(shù)據(jù)。對(duì)角線原則、環(huán)線法原則獲得的平面度誤差值不符合最小條件的要求，因此通常把用對(duì)角線原則、環(huán)線法原則得到的相對(duì)測(cè)量基面的距離作為最小條件原則評(píng)定平面度誤差的原始數(shù)據(jù)。