中國鑄造網(wǎng)：對于多種鍍覆層與基體的組合，其厚度可以通過β射線反向散射儀來進行非破壞性厚度測量。當β粒子(快速電子)進入鍍層時，粒子會與包括鍍層在內(nèi)的原子相互制約從而損失能量和偏離軌道。由于在軌道中與原子大量撞擊的結(jié)果，很多粒子會從原來進入的鍍層反向穿出，這就是反向散射。

    β粒子和原子的撞擊的概率，隨著軌道原子的數(shù)目的增多而增加，因此，對于給定密度的材料，具有在這種一定密度材料中穿過的速度。由于粒子能量與鍍層和基體材料的穿透速度的差別，從而可以利用|3射線反向散射的強度來測量鍍層的厚度。

    應(yīng)用β射線反向散射方法測量鍍層厚度，需要鍍層與基體材料在原子序上有足夠大的間隔。測量較小制件時，被測部位應(yīng)保持不變，以消除試樣幾何形狀的影響。β射線反向散射測量技術(shù)較多用于各種基體金屬上貴金屬的薄鍍層如金、銠等的測量。